一種測量線纜屏蔽層好壞的高效辦法

我們將（jiāng）介紹如何使用靜電發生（shēng）器，電流鉗和示波器，快速（sù）測量線纜屏蔽質量的好壞。

圖1.ESD信號發生（shēng）器對屏蔽線纜屏蔽層放電

圖1顯示了，靜電發生（shēng）器直接注入ESD信號到同軸電纜的（de）屏蔽層上。當靜電（diàn）放電，電流流過電纜屏蔽層時，一些不希望出現的ESD“信號”會（huì）通過屏蔽層和連接器中的缺陷泄漏出去。泄露量的多少與屏蔽層阻抗和高頻特性有直接關係。

IEC 61000-4-2 ESD信（xìn）號發生器的電流波形包含高頻和低頻分量，可參考圖2。高頻分量包含在波形的上升（shēng）沿中（上升時間小於1納秒），而上升時間後半段的幾十納秒波形中包含了低頻分量。波形的高頻和（hé）低頻分量可用於快速確定電纜屏蔽層在較寬的頻率範圍內的屏蔽效果。

 圖2. IEC 61000-4-2中ESD的電流波形

 圖3顯示（shì）了測試布置（zhì）的測量端。測試電（diàn）纜端接到示（shì）波器。電流探頭用於測量屏蔽層上流過的ESD電流，電流探頭另一端連接到示波（bō）器的輸入端。

 圖3.接收端電流探頭（tóu）和示波器

圖4顯示了，屏蔽層較差（chà）的同軸電纜的測試情（qíng）況（kuàng）。靜電發生器設置輸出電壓為（wéi）500V。紅色的測試波形顯示，ESD電流波（bō）達到1A，且初始上升沿電壓接近7V，由於高頻阻抗較大的原因，當ESD電流在經（jīng）過屏蔽層的時候，產生加大的壓降，上升沿電壓值體現了此屏蔽線高頻特性較差。此外從測試波形看，低頻部分幾十納秒的時間（jiān）裏，電壓幅值也偏高，這表明（míng）電纜屏蔽層在較低（dī）的頻（pín）率下具有明（míng）顯（xiǎn）的阻抗。

圖4測試波形對（duì）應的電纜是便宜的（de）同軸電纜，帶（dài）有金屬化聚脂薄膜的屏蔽層，在金屬箔的周圍（wéi）隻有幾根非常細的屏（píng）蔽線。

 圖4.高阻抗屏（píng）蔽電（diàn）纜電壓和電流波形

 圖5顯示了高質量屏蔽的50Ω同軸電纜（雙層屏蔽（bì），屏蔽層編（biān）織線稠密）的測試結果。電壓峰（fēng）值僅為200 mV。另外，電壓響應的低（dī）頻分量很小，這表明（míng）屏蔽（bì）層的阻抗很低。

 總結：將（jiāng）ESD信號發生器輸出應用於電纜屏蔽層，可以快速了解屏蔽層的好壞。並能（néng）從測量波形中看出屏蔽層阻抗的大小和高（gāo）頻特性的（de）好壞（huài）。