近場探頭測試
更(gèng)新時間:2024-02-02 點擊(jī)次(cì)數:1431
輻射發射的(de)測試一般是使用校(xiào)準過的(de)天線進行(háng)遠場的測試(shì),可以準確的高速我們被測件是否符合相應的EMI標準。但是遠場的(de)結果對於問題的查找不是很方便,我們通常無法從遠場測(cè)試的結(jié)果來判斷被測(cè)件超標的源頭,是某個芯片導致的,還是內部某條電源(yuán)走線導致的(de)。在(zài)這種情況下,近場探頭和便攜式頻(pín)譜儀便成為(wéi)工程師經常使用的手段。近場探頭
近場探頭分為電場探頭和磁場探頭。電場探頭在理想情況下隻(zhī)響應電場分量,主要(yào)用於檢(jiǎn)測電壓,電場探頭的方(fāng)向並不重要(yào),而且在物理尺寸上一般都比較小,探頭越小,能(néng)夠探測的區域就越小。磁場探頭一般為環形(也有很小的是一根杆的),在理想情況下隻響應(yīng)磁場(chǎng)分量(liàng),主要用於檢測電流,更大的環能夠接(jiē)收越多的磁通量,靈敏度越高,小環具有更高的空間分(fèn)辨率,適用於具體定位,同時磁場探頭的方向很重要,如下(xià)圖。
和近場探頭配合使(shǐ)用的一般還有前置放大器,因(yīn)為近場探頭接收的信號信噪比一般很低,因此,使用前置放大器對信號電平進行放大。一般以下幾(jǐ)種(zhǒng)情形下,需要使用到前置放大器。一是輻射水平很低的時候,二(èr)是接收設備內部的噪聲很高,三是使用小環進行測試時,小環的靈敏度很低。
相對測(cè)試
記住:近場(chǎng)探頭的測量結果和使用天線進行遠場測量的結果(guǒ)不能直接進行數值等效(xiào)。但是存(cún)在基(jī)本的關聯:如果一個信號在遠場被(bèi)檢測到,那麽它也可以在近場(chǎng)被檢測到。既遠場輻射越(yuè)大,則近場也必然越(yuè)大。反之(zhī)則不一定(dìng)。所以近場探頭(tóu)的測試實際上是一個相對測試,不是數值精確的(de)絕對測試。作為(wéi)相(xiàng)對測試(shì),使用近場探頭進行測試的時(shí)候,有一個參考是有必要的,通過被測件的測試結果和一個已知合格被測件或其他位置的近場測試結果進行比較,來預測遠場測試的結果。而不是使用近場測試的結(jié)果直接(jiē)與EMI標準的限值線進行比較。另外(wài),近場探(tàn)頭的絕對測試數值意義不大,因為這個(gè)結果受很多因素的影響,比如測(cè)試時探頭的距離、探頭的方(fāng)向、探頭的大小等都會影響該測試結(jié)果。
在近場,電場和磁場共同存在,但大小可能差異很大,而(ér)且沒有固(gù)定的轉換關係。對於高電壓(yā)、小電流的(de)噪聲源來說,電場遠大於(yú)磁場,對於大電流、小電壓的的噪聲源來說,磁場遠大於電場。另外,在近場的區(qū)域,磁場隨(suí)著距離的變化要快於電場。
最後
總之(zhī),近場探頭主要應用於查找幹擾源、對比幹擾的強度。幫助(zhù)工程師快速的查找幹擾源,而不是絕對的精確測量。